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EMI电磁干扰屏蔽效能试验!

确定电磁干扰屏蔽的衰减水平可能很复杂,用于检索结果的方法通常根据特定的屏蔽应用而有所不同。测试屏蔽强度的一些常见技术包括:
 
•开放式现场测试:开放式现场测试旨在尽可能模拟电子设备的正常使用条件。天线放置在距离设备不同的地方,除了测试设备之外,没有其他金属材料。这通常发生在一个开放的场所,以允许自由空间测量辐射场强度和传导发射。结果由噪声电平表记录,该表检测产生的电磁干扰水平。户外测试最适合于成品电子产品。
 
•同轴传输线测试:该测试方法测量平面波场电磁波辐射,以确定平面材料的屏蔽效能,通常用于比较测试。基准测试装置被放置在专用的保持单元中,并记录其在多个频率下接收的电压。然后,第一个主题被一个负载设备所取代,这个负载设备要经过相同系列的测试。参考和负载装置之间的比较确定了有屏蔽材料和无屏蔽材料的功率接收比。
 
•屏蔽盒测试:屏蔽盒技术采用带切口的密封盒。在盒子的开口处放置一个导电涂层的屏蔽单元,测量所有发射和接收的辐射。记录并比较盒内和盒外的电磁信号与代表屏蔽效能的信号之比。这种方法对于超过500兆赫的频率通常是无效的。
 
•屏蔽室测试:在某些情况下,可能无法显著降低某一区域的环境噪声量,可能需要采用屏蔽室技术。这种方法通常包括至少两个屏蔽室,它们之间有一堵墙,传感器可以通过这堵墙运行。测试装置和测试设备放在一个房间里,传感器阵列放在另一个房间里。通常包括屏蔽引线,以降低由外部信号引起的测量误差的可能性。屏蔽室过程非常适合评估设备的敏感性。
 
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