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EMI屏蔽效能和电磁干扰屏蔽测量

EMI电磁干扰屏蔽测量
 
电子器件在世界范围内的迅速发展,使电磁干扰(EMI)和射频干扰(RFI)成为人们关注的重要问题。尽管所有的电子设备都会发射电磁能和电能,但如果这种能量无意中与另一个设备发生了相互作用并导致其故障,则认为是干扰。大多数电磁干扰是由1千赫兹到10千兆赫兹之间的频率引起的,这个范围被称为射频干扰波段,包括无线电和音频。常见的干扰源包括无线电、电视、电动机、电器、雷达发射机、静电和闪电。易受干扰的设备,如计算机、微处理器、广播接收器、测量仪器和导航系统,必须经常进行屏蔽,以保护它们免受电磁干扰的影响。
 
由于电子设备塑料外壳的使用越来越多,电磁干扰屏蔽已成为一个更重要的问题。大多数塑料都是绝缘体,因此电磁波可以自由通过,必须使用导电屏障作为屏蔽来阻挡电磁波。为了提供屏蔽,塑料外壳涂有导电层,或者外壳本身是导电的。涂层方法更为常见,因为它更容易完成,而且对屏蔽外壳的质量依赖性较小。为了衡量屏蔽项目的有效性,可以对屏蔽设备或外壳应用一套特定的测试和测量标准。
 
EMI电磁干扰屏蔽测量:
 
衰减是衡量电磁干扰屏蔽效能的主要指标之一。电磁信号在屏蔽前的强度与屏蔽后的强度之差。衰减以分贝(db)为单位,对应于有或无保护介质的场强之比。信号强度或振幅的降低通常与距离成指数关系,而分贝范围则沿对数刻度下降。这意味着50分贝的衰减率表明屏蔽强度是40分贝的10倍。一般来说,10到30分贝的屏蔽范围提供了最低有效屏蔽水平,而低于该范围的任何屏蔽都可以被视为很少或没有屏蔽。60至90分贝之间的屏蔽可能被视为高水平的保护,而90至120分贝是例外。
 
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